檢漏的方法多種多樣，SDT超聲波檢漏儀大致可分為充壓檢漏與真空檢漏。如大家經(jīng)常見到的自行車內(nèi)胎打氣浸入水中，通過冒氣泡來檢漏就是典型的充壓檢漏。將被檢工件用真空泵抽真空后，噴氦氣找漏電的氦質(zhì)譜檢漏就是典型的抽真空檢漏。作為密閉電子元器件，制作完畢后，就象一個乒乓球似的，外表滅有任何可供充壓貨抽真空的關(guān)口。因而常用的充壓、抽真空檢漏都無法應(yīng)用。元器件常用的檢漏方法是氦質(zhì)譜背壓檢漏。所謂背壓檢漏，即：將電子元器件放進(jìn)加壓罐，用高壓示蹤氣體氦對元器件加壓，氦氣通過元器件上存在的漏孔被壓入它的內(nèi)腔，然后將壓過氦的元器件放入真空容器，采用氦質(zhì)譜抽空檢漏法進(jìn)行漏率測試的方法（在標(biāo)準(zhǔn)中通常加細(xì)檢漏）。由于被檢工作內(nèi)腔的容積不一樣，氦氣加壓時(shí)的壓力大小不一樣，加壓時(shí)間長短不一樣，以及加壓完畢到正式檢漏的等待時(shí)間不一樣，同樣大小的一個漏孔，SDT超聲波檢漏儀在檢漏儀上鎖顯示的漏率（測量漏率）值大小是不是一樣，并且不是元器件的正真漏率，是一個測量漏率（過渡值）。要想知道工件的真正漏率（即等效標(biāo)準(zhǔn)漏率），還需作一些計(jì)算才能得到。另外，在背壓檢漏時(shí)，儀器上顯示的每一個測量漏率都對應(yīng)兩個可能的等效標(biāo)準(zhǔn)漏率。而且有*大可檢的極限值。也就是說漏率大道一定程度，這種方法就檢測不到了。所以經(jīng)氦質(zhì)譜背壓檢漏的工作還必須作一次靈敏度比較低的輔助檢漏（在標(biāo)準(zhǔn)中通常叫粗檢漏），以確定在兩個可能的等效標(biāo)準(zhǔn)漏率中選哪一個才是正確的。元器件的生產(chǎn)往往是大批量的，檢漏時(shí)一個一個地去計(jì)算、分辨是很費(fèi)時(shí)的。因而在相應(yīng)的國軍標(biāo)中并列地規(guī)定了一些較簡便的檢漏程序，但這些程序若使用不當(dāng)也會帶來很大誤差，有可能將不合格品判為合格品，SDT超聲波檢漏儀因而影響**產(chǎn)品 的質(zhì)量，是一個很大的隱患。為了確保元器件檢漏所得數(shù)據(jù)能真實(shí)的反映其密封性能的本來面目，對于從事檢漏工作的操作者，就應(yīng)該認(rèn)真地了解元器件檢漏的基本原理，了解元器件檢漏與一般檢漏不一樣的地方，并搞清楚各類國際、國軍標(biāo)、部標(biāo)中的許多具有規(guī)定，以確保檢漏數(shù)據(jù)的可靠、準(zhǔn)確。

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